Rückstreuelektronenmikroskopie

Die Verwendung rückgestreuter Elektronen (engl. backscattered electrons) für die Bildgebung von Objekten stellt eine Sonderform der Rasterelektronenmikroskopie dar. Die Rückstreurate steigt dabei proportional mit der Ordnungszahl der in der Probe enthaltenen Elemente an. Dies hat in der Elektronenmikroskopie die Erzeugung eines spezifischen Materialkontrastbildes zur Folge, welches insbesondere in den Material- und Geowissenschaften zahlreiche Anwendungsfelder besitzt. Das vorliegende Buch widmet sich zunächst den Grundlagen der Rückstreuelektronenmikroskopie, ehe die Nutzung der Methode in der erdwissenschaftlichen Forschung im Detail zur Sprache kommt.

Robert Sturm, geboren 1971, studierte Erdwissenschaften, Biologie und Physik an der Universität Salzburg. Nach etlichen Jahren als Forschungsassistent an der Universität arbeitet er gegenwärtig als freier Wissenschaftler und Buchautor. Zu seinen Interessensgebieten zählen unter anderem die Kristallografie, Strukturgeologie, Entomologie und medizinische Physik.